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鍍膜介電常數(shù)測定儀在現(xiàn)行高頻介質材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。該樣品由人工藍寶石，石英玻璃， 氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。

薄膜塑料介電常數(shù)測定儀中速: 25次/s, 慢速: 5次/s 校準功能 :開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準 等效方式 :串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 量程方式:自動, 保持

聚乙烯薄膜介電常數(shù)測定儀 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復性。 ◎ 介電常數(shù)測量范圍可達1～105

硅膠介電常數(shù)測定儀本電極的設計主要是參照國標GB1409。本電極采用的是三電極式結構，能有效的表面漏電流的影響，使測量電極下的電場趨于均勻電場

陶瓷片介電常數(shù)介損測試儀測量項目測量范圍測量 電容量Cx40pF--20000pF±0.5% Cx±2pF 介損損耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（W）（即1K/π）時 測量項目測量范圍測量 電容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF 介損損耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0