自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述：自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀注意事項(xiàng)：

1、儀器不使用時(shí)請(qǐng)切斷電源，連接線無需經(jīng)常拔下，避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象，

2、探針筆測(cè)試結(jié)束，套好護(hù)套，避免人為斷針

3、儀器操作前請(qǐng)您仔細(xì)閱讀使用說明書，規(guī)范操作

4、輕拿輕放，避免儀器震動(dòng)，水平放置，垂直測(cè)量

更新時(shí)間：2024-07-15

產(chǎn)品型號(hào)：BEST-300C

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：962

產(chǎn)品詳情

品牌	北廣精儀	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
類型	指針式電阻測(cè)試儀	應(yīng)用領(lǐng)域	化工,農(nóng)業(yè),文體,能源,建材

自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

■ 四探針：一次測(cè)量，顯示完整電阻率值。

■ 采用了*的恒流源技術(shù)，能夠滿足寬范圍的電阻率測(cè)試要求

■電阻率測(cè)量：大屏幕清晰顯示硅料電阻率值，方便檢料工快速分選

■ 電流測(cè)量：本儀器采用*芯片技術(shù)，可通過調(diào)節(jié)硅材料厚度，儀器可直接鎖定電流，使測(cè)量使用更加簡(jiǎn)便準(zhǔn)確，本儀器可根據(jù)需要配備測(cè)試平臺(tái)，利用測(cè)試平臺(tái)可以測(cè)試薄片電阻率

適用范圍

四端測(cè)試法是目前較*之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.

提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，滿足國內(nèi)及國外客戶需求

電阻測(cè)量范圍：
1、電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

電阻：1×10-5～2×105Ω

電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：最小1μΩ
測(cè)量誤差±5%
2、測(cè)量電壓量程： 2mV 20mV 200mV 2V
測(cè)量精度±（0.1%讀數(shù)）

分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA,
⑶誤差：±0.2%讀數(shù)±2字

4. 主機(jī)外形尺寸：330mm*350mm*110mm

5、顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ

7、標(biāo)配：測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀步驟及流程

　　1. 開啟電源，預(yù)熱5分鐘.

　　2. 裝配好探頭和測(cè)試平臺(tái).

　　3. 設(shè)定所需參數(shù).

　　4. 測(cè)量樣品

　　5. 導(dǎo)出數(shù)據(jù).

　　優(yōu)點(diǎn)描述：

　　1. 自動(dòng)量程

　　2. 雙電組合測(cè)試方法

　　3. 標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器

　　4. pc軟件運(yùn)行

　　5. 同時(shí)顯示電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

　　6. 可顯示5位有效數(shù)字.

　　7. 中、英文界面

量程劃分及誤差等級(jí)

量程	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00	2.000	200.0
	kΩ-cm/□			Ω-cm/□			mΩ-cm/□
誤差	基本誤差±0.5%FSB±5LSB（在各量程范圍內(nèi)），超量程或欠量程可測(cè)量，但誤差將隨超欠程度而變大

一般目前的四探針電阻率（電導(dǎo)率）測(cè)試儀均已配置厚度的修正，通過厚度數(shù)值的設(shè)置，計(jì)算出不同的樣品厚度對(duì)電阻率的影響。數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，zui常用的是直線型四探針。四根探針的針尖在同一直線上，并且間距相等，都是S，一般采用0.5mm的間距，不同的探針間距需要對(duì)測(cè)量結(jié)果做相應(yīng)的校正?？梢詼y(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測(cè)柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡(jiǎn)稱方阻），換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。